Optris红外测温仪 如何确保测量准确性方法

为确保Optris红外测温仪在激光加工等工业场景中的测量准确性，需综合以下技术要点和操作规范：

一、环境控制与设备配置

抗激光干扰设计‌
Optris CTlaser系列采用2.3μm波长滤光片抑制激光辐射影响‌，测量时需确保设备与激光路径保持合理角度，避免直射镜头。

环境校准‌
使用前需在16-32℃稳定环境中预热30分钟，避免气流、强光或电磁干扰‌。建议配合黑体辐射源进行定期校准（至少每年一次）‌。

二、测量操作规范

距离与角度‌
保持探头与被测物垂直，距离按设备光学分辨率调整（如MG201需20:1距离比）‌。激光辅助定位功能可提高对准精度‌。

发射率设置‌
根据不同材料表面特性（如金属、陶瓷）调整发射率参数，Optris设备支持0.1-1.0可调‌，需参考材料手册设定。

三、维护与验证

清洁与校准‌
每周用清洁镜头，禁止使用研磨剂‌。校准后需通过比对法验证（如与接触式热电偶对比3个温度点）‌。

故障排查‌
若出现读数异常，检查电路板元器件（如热电偶连接状态、AD芯片）‌，避免在高温高湿环境中使用。

四、特殊场景适配
激光加工监测‌：PI 450i型号需搭配陷波滤光片应对1064nm激光，测量熔池时保持80Hz以上帧频‌。
高温熔融金属‌：CTlaser MT系列（200-1650℃）需定期检查热电偶冷端补偿功能‌。

通过以上措施，可将Optris红外测温仪的测量误差控制在±0.3%FS以内‌。